GH132合金電子束焊接裂紋的研究

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GH132合金電子束焊接裂紋的研究

王敬智, 張輝倫

文章導航 > 工程科學學報 > 1982 > 4(1): 43-53

王敬智, 張輝倫. GH132合金電子束焊接裂紋的研究[J]. 工程科學學報, 1982, 4(1): 43-53. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1982.01.005

引用本文:

王敬智, 張輝倫. GH132合金電子束焊接裂紋的研究[J]. 工程科學學報, 1982, 4(1): 43-53. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1982.01.005

王敬智, 張輝倫. GH132合金電子束焊接裂紋的研究[J]. 工程科學學報, 1982, 4(1): 43-53. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1982.01.005

引用本文:

王敬智, 張輝倫. GH132合金電子束焊接裂紋的研究[J]. 工程科學學報, 1982, 4(1): 43-53. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1982.01.005

GH132合金電子束焊接裂紋的研究

doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1982.01.005

王敬智¹,
張輝倫²

1. 北京鋼鐵學院高溫教研室;
2. 湖南株州三三一廠焊接室

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出版歷程
- 網絡出版日期: 2021-11-15

摘要: 本文研究GH132合金電子束焊接裂紋的產生原因,以及與熱影響區裂紋有關的高溫晶界相

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